一、極限測(cè)試

1.模塊輸出電流極限測(cè)試

模塊輸出電流極限測(cè)試是測(cè)試模塊在輸出限流點(diǎn)放開(kāi)(PFC的過(guò)流保護(hù)也要放開(kāi))之后所能輸出的最大電流，測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證模塊的限流點(diǎn)設(shè)計(jì)是否適當(dāng)，模塊的器件選擇是否合適。如果模塊的輸入電流極限值偏小，表明模塊的輸出電流量不夠;如果模塊的輸出電流極限值設(shè)計(jì)過(guò)大，表明模塊的輸出電流裕量過(guò)高，模塊的成本還可以降低。

測(cè)試方法：

將模塊的輸出限流點(diǎn)放開(kāi)，按額定輸出電流的5%逐步增加模塊的輸出電流，每個(gè)電流值保持10分鐘，直至模塊損壞(或輸出熔斷絲斷)，記錄模塊損壞時(shí)的輸出電流值即為模塊的輸出電流極限值。為了防止在測(cè)試過(guò)程中模塊出現(xiàn)積熱損壞，每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完成之后，須將模塊冷卻到測(cè)試前的冷機(jī)狀態(tài)。測(cè)試的電流極限值為模塊額定電流的120%(也就是說(shuō)，超過(guò)120%以后，無(wú)需進(jìn)行測(cè)試)。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

模塊的電流極限必須滿(mǎn)足110%，合格，同時(shí)測(cè)試結(jié)果作為模塊設(shè)計(jì)的依據(jù)(參考數(shù)據(jù))。否則不合格。

2.靜態(tài)高壓輸入

測(cè)試說(shuō)明：

在靜態(tài)高壓時(shí)，PFC電路實(shí)現(xiàn)了過(guò)壓保護(hù)，此測(cè)試主要是評(píng)估一次電源模塊在靜態(tài)高壓情況下的可靠性。

測(cè)試方法：

A、按規(guī)格書(shū)要求將模塊輸入電壓調(diào)整為最大靜態(tài)耐壓點(diǎn)，運(yùn)行1小時(shí)。

B、從最大靜態(tài)耐壓點(diǎn)開(kāi)始，以10V/10min的速率向上調(diào)高輸入電壓，直至模塊損壞，記錄模塊損壞時(shí)的輸入電壓值即為模塊的最高靜態(tài)極限輸入電壓。記錄器件損壞情況，分析原因。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

在上述A情況下，一次電源模塊不出現(xiàn)損壞或其他不正?，F(xiàn)象，合格;否則不合格。在B類(lèi)條件下，記錄模塊的最高靜態(tài)輸入電壓，作為模塊的資料參考，在B類(lèi)條件下測(cè)試的結(jié)果只作為參考，不作為判斷是否合格的標(biāo)準(zhǔn)。

3 溫升極限測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明：

溫升極限測(cè)試是指在于模塊過(guò)溫保護(hù)失效的情況下，使模塊損壞的最高環(huán)境溫度，測(cè)試的目的在于考察模塊所能承受的最高環(huán)境溫度，從而為模塊的設(shè)計(jì)提供參考。

測(cè)試方法：

將模塊的溫度保護(hù)裝置去掉，然后將模塊置于溫箱中，模塊的輸入電壓為最低電壓，輸出為最大功率點(diǎn)，監(jiān)測(cè)模塊的溫度保護(hù)繼電器處的溫度，從模塊的最高環(huán)境溫度開(kāi)始，以5oC/30min的速度逐漸升高環(huán)境溫度，直到模塊損壞為止。

記錄內(nèi)容：

記錄模塊損壞時(shí)，內(nèi)部各個(gè)關(guān)鍵器件的溫升，分析故障點(diǎn);記錄溫度極限時(shí)的損壞情況(運(yùn)行時(shí)間、溫度、損壞器件等詳細(xì)情況)，作為資料參考。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

規(guī)格書(shū)定義的工作溫度上限，電源模塊屏蔽過(guò)溫保護(hù)，長(zhǎng)時(shí)間滿(mǎn)載工作模塊不損壞，合格;否則不合格。

此項(xiàng)測(cè)試結(jié)果可以作為模設(shè)計(jì)的參考，判定的標(biāo)準(zhǔn)是看模塊損壞時(shí)的最高溫度與模塊繼電器把保護(hù)處的溫度(或軟件保護(hù)點(diǎn))的距離，如果兩者相差為負(fù)，則表示溫度繼電器保護(hù)功能(或軟件保護(hù)功能)沒(méi)有作用，如果兩者相差在6～10oC，則表示模塊的熱裕量太小，如果兩者相差大于40度，則表示裕量太大。

4 EFT抗擾性測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明：

測(cè)試電源所能承受的最高EFT抗擾性指標(biāo)，以確認(rèn)其裕量。測(cè)試產(chǎn)品在抵抗由于如高頻爐等設(shè)備產(chǎn)生的電網(wǎng)EFT發(fā)生的累積失效的能力。

測(cè)試方法：

A、將EFT可抗擾性開(kāi)路電壓設(shè)為規(guī)定等級(jí)電壓+500V，進(jìn)行沖擊抗擾性測(cè)試。

B、以500V為一步進(jìn)電壓等級(jí)，重復(fù)A步驟，每一電壓等級(jí)試驗(yàn)按照標(biāo)準(zhǔn)的EFT測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，記錄電源性能劣化及損壞的試驗(yàn)等級(jí)電壓值(試驗(yàn)最高電壓為EFT抗擾性設(shè)備最高電壓)。

C、確認(rèn)電源損壞部位，分析原因。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

EFT極限值大于規(guī)格書(shū)要求的5%，合格;否則不合格。

5 溫度沖擊強(qiáng)化試驗(yàn)

測(cè)試說(shuō)明：

驗(yàn)證產(chǎn)品在存儲(chǔ)和運(yùn)輸過(guò)程中所能承受的高低溫沖擊極限。

(1)試驗(yàn)前按照有關(guān)規(guī)范進(jìn)行電氣性能和機(jī)械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))檢查，確保受試驗(yàn)樣品在進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)前的電氣性能和機(jī)械性能正常。

(2)試驗(yàn)過(guò)程中樣品不通電，不進(jìn)行功能監(jiān)測(cè)。

(3)試驗(yàn)結(jié)束后通過(guò)目測(cè)等手段檢查機(jī)械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))是否正常，同時(shí)按《通信電源模塊基本性能測(cè)試規(guī)范》對(duì)電氣性能進(jìn)行測(cè)試應(yīng)滿(mǎn)足要求。

測(cè)試方法：

溫度強(qiáng)化沖擊試驗(yàn)的方法見(jiàn)下圖：

HT：高溫箱溫度，取80度

LT低溫箱溫度，取-45度

Ncyc：循環(huán)次數(shù)，取20T

Dt：樣品在保溫段的停留時(shí)間，取45～60min

Ct：高低溫之間的切換時(shí)間(由沖擊箱決定，不用選擇)

附表——溫度沖擊強(qiáng)化試驗(yàn)條件：

樣品種類(lèi) 高溫箱溫度HT 低溫箱溫度LT 保溫時(shí)間Dt 轉(zhuǎn)換時(shí)間Ct 循環(huán)次數(shù)Ncyc

表貼元件制成板 130 -70 30min ≤5min 50T

普通元件制成板 100 -55 30min ≤5min 50T

整機(jī) 80 -45 45～65min ≤5min 20T

說(shuō)明：

如果制成板上既有表貼元件，又有普通元件，按普通元件的要求執(zhí)行。

整機(jī)保溫時(shí)間根據(jù)樣品體積的大小在45～65min之間選擇，體積小的短，體積大的長(zhǎng)。

溫度沖擊測(cè)試步驟：

(1)試驗(yàn)前對(duì)受試樣品進(jìn)行機(jī)械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))和電氣性能檢查，保證樣品機(jī)械性能和電氣性能正常。

(2)將樣品合理的布置于溫度沖擊箱中，樣品和溫度箱四壁間應(yīng)留有足夠大的空間，以便于空氣流通。

(3)按上表選擇溫度沖擊試驗(yàn)條件。

(4)選定溫度沖擊試驗(yàn)從高溫開(kāi)始，按起動(dòng)鍵起動(dòng)溫度沖擊試驗(yàn)。

(5)試驗(yàn)進(jìn)行設(shè)定的循環(huán)次數(shù)后自動(dòng)停止。

(6)試驗(yàn)結(jié)束后將樣品從溫度沖擊箱中取出，在常溫小恢復(fù)直至樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定。

(7)觀察試驗(yàn)后的樣品有無(wú)機(jī)械損傷(如表面翹曲、破裂、元器件松動(dòng)、脫落等)并檢查電氣性能有無(wú)異常。

(8)如果樣品發(fā)生上述的機(jī)械損傷或電氣性能指標(biāo)不符合相關(guān)規(guī)范，即認(rèn)為樣品也損壞，詳細(xì)填寫(xiě)試驗(yàn)記錄表。

(9)對(duì)試驗(yàn)暴露的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行分析，提出改進(jìn)措施。

關(guān)鍵詞： 開(kāi)關(guān)電源測(cè)試 電源模塊